LTE TDD & FDD 测量库套件
LTE TDD 与 FDD 测量库套件提供测量功能库，根据 ETSI TS 36.521-1 (3GPP 8.4.0 版) 要求分别测量LTE TDD 与 FDD 信号特性。
- 功率
- 发射信号质量：
- 频率误差
- 误差向量幅度 (EVM)
- IQ 斜率/增益失衡
- 符号时钟误差
- IQ 分量 (载波泄漏)
- 未分配 RB 带内发射
- 频谱平坦度
- 输出射频 (RF) 频谱辐射:
- 互补积累分布函数 (CCDF)
- 星座
LTE FDD 与 LTE TDD 可单独用作 303x 数字化仪选件。每种情况下，可对 1.4 MHz 至 20 MHz范围内所有带宽上行链路 (SC-FDMA) 传输，以及 QPSK、QAM16 和 QAM64 各种调制类型进行LTE 分析。除数字测量结果外，测量套件还提供频谱辐射掩模、CCDF、星座图、EVM 与载波及 EVM与符号的图示显示。上行链路信号 EVM 分析支持 PUSCH、SRS 和 PUCCH。同时，支持不连续传输 (DTX) 状态下的信号测量。
LTE TDD 与 LTE FDD 测量套件专门用于配置基于 PXI 的射频 (RF) 测试系统开发和生产移动无线电发射机、子模块和 RFIC (射频集成电路)。测量套件有助于生产环境下充分发挥 PXI 3000 测试仪快速、高性能和高度灵活的优点，显著提高 LTE 设备的测试效率。
